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              Verifire MST鐳射干涉儀 多表面測量

              鐳射干涉儀可以在你的測量中,只要一次資料擷取,就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度,同時還能得到平行平板的光學厚度

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              工作時間:09:00-17:45


              Verifire? MST鐳射干涉儀提供了一個嶄新的測量方式和能力,傳統的鐳射干涉儀應用是測量兩個面的波前變化,也就是說測量一個 由兩個面所形成的腔。但是,如果所測量的是一個沒有經過鍍膜的平行平板,則就會產生兩個疊加的干涉條紋(三個面的腔所形成),這樣就會干擾標準的位相干涉測量分析?,F在,ZYGO的Verifire? MST鐳射干涉儀解決了這一個問題,通過波長調制技術和ZYGO新的傅立葉轉換方法,可以進行三個甚至四個平行面的測量,不僅可以顯示所有的面,并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。

              三平面干涉測量:
              鐳射干涉儀可以在你的測量中,只要一次資料擷取,就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度,同時還能得到平行平板的光學厚度:
                      ? 前表面形貌圖
                      ? 光學厚度變化
                      ? 物理厚度變化和后表面形變

              四表面干涉測量:
              這一技術能夠通過兩次資料擷取得到下列結果:
                      ? 前表面和后表面的形貌圖
                      ? 物理厚度變化
                      ? 光學厚度變化
                      ? 折射率變化
                      - 非線性材料均勻性
                      - 線性材料均勻性

              多表面樣品測量快速、簡單和品質提升,同時測量表面形變和光學厚度變化,平行平板兩側測量就可以得到其均勻性
                      ? 不需要涂油就可以進行安全、快速測量
                      ? 兩次測量不需要進行調整
              新型的線性材料均勻性測量,快速測量,只需要幾分鐘而不是幾個小時





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