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              ZYGO Verifire XPZ相位調變鐳射干涉儀

              ZYGO Verifire? XPZ型鐳射干涉儀可以為光學元器件的平面、球面面形和透射波陣面提供快速、高精度干涉測量

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              郵箱:814294500@qq.com 

              工作時間:09:00-17:45


              Verifire? XPZ? - 是高精度高重復性的相位調變鐳射干涉儀,具有 640× 480 圖元解析度,與 ZYGO 功能強大的MetroPro® 軟體進行資料處理和分析。ZYGO Verifire? XPZ型鐳射干涉儀可以為光學元器件的平面、球面面形和透射波陣面提供快速、高精度干涉測量,配合功能強大的MetroPro®軟體可以獲得高重復性和高精度的測量結果。在過去的三十多年,我們的干涉儀是世界各地量測設備的*選。

              Verifire? XPZ運用精確相位調變技術對物件的細微面形進行精密測量,具有很高的精確度和重復性。測量時對干涉腔長進行精確調制,同時640 x 480 圖元CCD進行資料擷取多個條紋圖像,由MetroPro®軟體分析計算。


              應用:
                      ? 可以測量玻璃或者塑膠光學元件,如:
                      平面、透鏡、棱鏡;
                      還有精密合金件、電腦硬碟磁片、軸承和封接面;
                      拋光件、陶瓷、接觸鏡等。






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